FME und Raster II

28.11.2019

Aufbauschulung zur Schulung FME und Raster I, 1-tägig

In dieser Schulung werden die in der Einführungsschulung erlangten Kenntnisse vertieft und anhand praxisnaher Beispiele aus den Bereichen Open Data und fernerkundliche Analyse von Satellitenbilddaten (Copernicus/Sentinel) angewandt.

Beginnend mit einer Einführung in die Welt der digitalen Bildverarbeitung und dem Copernicus-Programm vermittelt die Schulung die Möglichkeit zur eigenständigen Beschaffung von qualitativ hochwertigen, offenen und hochaufgelösten Satellitenbilddaten. Weiterhin werden Automatisierungsprozesse und Manipulationsmöglichkeiten mit der FME-Technologie vorgestellt und angewendet.

Datum

28.11.2019

Ort

Bechtle GmbH & Co. KG
Martin-Luther-King-Weg 6
48155 Münster

Uhrzeit

09:00 - 16:30 Uhr

Kategorie
Rasterdatenverarbeitung mit FME
Preis

490 € (zzgl. 19% Mwst.)

Lernziel

Bulletpoint

Die Teilnehmer sind in der Lage, mit der FME Rasterdaten zu manipulieren, zu analysieren und durch offene Daten in Mehrwert zu setzen.

Zielgruppe

Bulletpoint

Erzeuger und Nutzer von Raster- und Vektordaten, FME Desktop Anwender, ArcGIS-Anwender mit FME-Kenntnissen.

Inhalt

Bulletpoint

Vertiefung der Grundlagen der digitalen Bildverarbeitung

Bulletpoint

Zugriff auf offene Daten und wie offen sie wirklich sind

Bulletpoint

Copernicus Open Access Hub - Manipulation von Rasterdaten

Bulletpoint

Ableitung besonderer Eigenschaften der Oberfläche

Bulletpoint

Ableitung diverser Bildindizes

Bulletpoint

Rasterdatenanalyse

Voraussetzungen

Bulletpoint

Erfolgreiche Teilnahme an der Schulung FME und Raster I oder vergleichbare Kenntnisse.

Anrede

Kontakt

Marie Paßlick, con terra

Marie Paßlick

+49 251 59689 300